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SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪
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SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪
1．用途：
快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等，面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据（包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等；面粉的麸星、砂石的大小和含量）。小麦品质检测方法符合GB/T 5504-2011《粮料检验 小麦粉加工精度检验》、GB/T 27628-2011《粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。
2．仪器特点：
仪器由光学成像系统、智能分析软件、220g量程1mg精度电子天平组成。系统具有卓越的自学习能力，实现人性化的一键式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到100%正确分类结果。该分析系统能大批量处理，自动分析300个以上小麦和面粉样品的高分辨率图像。由专业软件分析成像后的彩色图像，准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度（即：可按面积自动排序及输出）、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等指标，以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况，并交互修正；当面粉指标偏离设定参数时，可报警显示；用户可随意查询检测结果，并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠，结果稳定、重复性高；样品可重复测试，重现性高。
3．主要性能指标*：
最大分析面积：小麦为A4纸幅面；面粉为35mm×35mm
测量时间：小麦≤2分钟/样品；面粉≤1分钟/样品视野。
小麦千粒重测量重复性误差±≤0.5%
两次扫描单面分析外观品质的重复性误差±≤2.0%
可接入条码枪来自动刷入样品编号，分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表，分析图像标记结果可保存。
4．仪器规格配置：
带RS232线电子天平（220g量程、1mg精度）1台，LED光源、最高光学分辩率4800×9600dpi双光源彩色扫描仪1台，单目体视显微镜+300万像素相机1套、微型手动移动平台1套，小麦外观品质分析、面粉麸星检测软件光盘1张（含电子版操作手册）、软件锁1只，籽粒收纳盘1个，紧粉用面粉成像小盘1付。（电脑需另配）
仪器总尺寸、总重量：宽×深×高约50cm×40cm×12cm，～13kg。
选配电脑推荐:品牌一体机（酷睿双核CPU / 4G内存/1G独立显卡/ 500G硬盘/19.5”彩显/无线网卡，Windows 7完整专业版或完整旗舰版）
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